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今日，日聯(lián)科技受邀參與受行業(yè)矚目的“第90屆CEIA電子智造高峰論壇 ”西安站。

會上，日聯(lián)科技與數(shù)百位業(yè)內專家、學者齊聚一堂，共同探討高可靠性智能檢測解決方案，為我國電子產業(yè)實現(xiàn)高質量發(fā)展獻策。

現(xiàn)場客戶云集，日聯(lián)科技專家針對工業(yè)檢測影像軟件、AI 人工智能算法、3D/CT 斷層掃描技術等在X射線檢測領域的應用做深度剖析。

日聯(lián)科技始終專注 X 射線自主創(chuàng)新研究，并不斷積累相關技術與產品的行業(yè)解決方案經驗，實現(xiàn)了閉管微焦點射線源、集成電路檢測設備、新能源電池檢測設備、3D/CT 檢測設備和一體化壓鑄成型車架檢測設備等高端應用產品的不斷突破，推動國內 X 射線檢測領域核心部件、核心設備的國產替代進程。

了解更多日聯(lián)科技X-ray檢測裝備信息可以撥打全國服務熱線：400-880-1456 或訪問日聯(lián)科技官網：www.suncrysta.cn